讲座主题：压电力显微镜（PFM）与开尔文探针显微镜（KPFM）在微区分析中的应用
主 讲 人：王洋 布鲁克纳米表面部应用科学家
讲座时间：4月11日（星期五）10:00—11:30
讲座地点：五山校区33号楼601室（腾讯会议：187-890-243）
讲座内容：1.压电力显微镜（PFM）的原理、基本操作及数据处理方法
2.开尔文探针显微镜（KPFM）的原理、基本操作及数据处理方法
主办单位：分析测试中心
报告摘要：
压电力显微镜（PFM）和开尔文探针显微镜（KPFM）在微区分析领域应用广泛。PFM能够通过检测材料在外加电场作用下产生的压电响应，清晰呈现压电、铁电材料的微观电畴结构与极化状态，在铁电存储器研发、压电传感器性能优化等工作中发挥着不可或缺的作用。KPFM专注于测量材料表面的电势差，进而获取表面功函数等关键信息，常用于分析半导体材料的载流子分布、界面电荷转移，对研究有机半导体器件、纳米电子器件的电学行为意义重大。本次讲座，王洋博士将详细介绍布鲁克原子力显微镜在PFM和KPFM模式下多种成像模式的基本操作方法，为参会者提供全面且实用的技术指导，助力大家更好地掌握和运用布鲁克原子力显微镜。
主讲人介绍：
王洋布鲁克公司纳米表面仪器部中国区应用科学家，王洋博士于2020年在天津大学取得工学博士学位。2020—2022年，在中科院深圳先进技术研究院脑所从事博士后研究。出站后，加入Bruker纳米表面仪器部担任应用科学家至今。主要负责原子力显微镜和白光干涉叁维光学轮廓仪方面的应用支持工作。